Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Thomas Seyller


Anschrift:
Herr Dr. Thomas Seyller
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
Naturwissenschaftliche Fakultät I
Lehrstuhl für Technische Physik (Prof. Dr. Ley)
Straße:
Erwin-Rommel-Strasse 1
Ort:
91058 Erlangen
Tel.:
09131-8528335
Fax:
09131-8527889

Leistungsprofil:
Praxisrelevante Forschungsgebiete:
  • Der Lehrstuhl betreibt Forschung auf dem Gebiet der Synthese, Modifikation und Analyse sogenannter "Neuer Materialien". Die Schwerpunkte liegen dabei auf Diamant, Siliziumkarbid, Nanoröhren und den Siliziden. Als Synthesemethoden kommen vorwiegend CVD-Prozesse zum Einsatz. Die analytischen Methoden umfassen neben Licht- und elektronenmikroskopischen Methoden verschiedene Formen der optischen und der Photoelektronen-Spektroskopie sowie Rastersondenmikroskopie.

Praxisrelevante aktuelle Projekte:
  • Siliziumkarbid-Oberflächen und Grenzflächen zu Gate-Oxiden
  • Strukturelle und Elektronische Eigenschaften Funktionalisierter Kohlenstoff-Nanoröhren
  • Dotierung und elektronische Oberflächeneigenschaften von Diamant
  • Ramanspektroskopie an Siliziumkarbid
  • In situ optische Kontrolle der Bildung ultradünner Silizide

Praxisrelevante Ausstattung/Messmethoden:
  • UHV-Kammer für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) mit monochromatisierter Röntgenquelle, Charge Neutralizer für isolierende Proben, Ar-Ionenquelle, Elektronenbeugung
  • UHV-Kammer für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) mit unmonochromatisierter Röntgenquelle, Ar-Ionenquelle, Elektronenbeugung, Ellipsometrie
  • Rasterkraftmikroskop (Contact und Non-Contact Modus)
  • Rasterelektronenmikroskop
  • UHV-Rastertunnelmikroskop, Ramanspektrometer, Kathodolumineszenz, Infrarotspekrometer


Publikationen:
  • Siehe Internetangebot: http://www.tp2.uni-erlangen.de


Kooperationsangebot für die Wirtschaft / Praxis:
Bevorzugte Form der Kooperation:
  • Messung

Angebote der Zusammenarbeit:
  • Charakterisierung von Probenmaterial (z.B. Katalysatoren, Beschichtungen) mittels Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS), Rastekraftmikroskopie (AFM) und Rasterelektronenmikroskopie (SEM)



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