Ludwig-Maximilians-Universität München

Jörg P. Kotthaus

Anschrift:

Leistungsprofil:

• Herstellung, Charakterisierung und Manipulation von Materie auf der Nanometer-Skala
• Maßschneidern elektronischer, optoelektronischer und elektromechanischer Eigenschaften von Festkörpern, insbesondere von Halbleitern, durch Nanostrukturierung

• 100 qm Reinraum, ausgestattet mit folgenden Einrichtungen:
• 2 Maskenbelichtungsanlagen, 2 Rasterelektronenmikroskope mit Lithographieeinrichtung, holographische Belichtungsanlage, Sputteranlage, 2 Aufdampfanlagen, 2 Plasmaätzanlagen, Rapid-Thermal-Processing System, 2 Rasterkraftmikroskope
• 5 Meßlabors, ausgestatt mit folgenden Einrichtungen:
• RF-Meßplatz, Mikrowellenmeßplatz, CO2-gepumpter Ferninfrarotlaser, 2 Infrarotfourierspektrometer, Lumineszenzmeßplatz, Ramanmeßplatz, Meßplatz für optische Nahfeldmikroskopie, He3/He4 - Tieftemperaturmeßplatz, diverse Kryomagnetsysteme

Publikationen:

• Reed, M. A.; HAnsesn, W.; Kotthaus, J. P.; Merkt, U.; Electrons in Laterally Periodic Nanostructures, Nanostructured Systems, Semiconductors and Semimetals, Seite 279-380, 1992
• Heitmann, D.; Kotthaus, J. P.; The Spectroscopy of Quantum Dot Arrays, Physics Today, Nr. 6, Seite 56-63, 1993
• Drexler, H.; Leonhard, D.; Hansen, W.; Kotthaus, J. P.; Petroff, P. M.; Spectroscopy of Quantum Levels in Charge-Tunable InGaAS Quantum Dots, Phys. Rev. Lett., Nr. 73, Seite 2252-2255, 1994
• Rocke, C.; Zimmermann, S.; Wixforth, A.; Kotthaus, J. P.; Böhm, G.; Weimann, G.; Acoustically Driven Storage of Light in a Quantum Well, Phys, Rev. Lett, Nr. 78, Seite 4099-4102, 1997
• Warbourton, R. J.; Weilhammer, K.; Kotthaus, J. P.; Thomas, M.; Kroemer, H.; The Influence of Collective Effects on the Linewidth of Intersubband Resonance, Phys. Rev. Lett., Nr. 80, Seite 2185-2188, 1998
• Song, A. M.; Lorke, A.; Kriele, A.; Kotthaus, J. P.; Wegscheider, W.; Bichler, M.; Nonlinear Electron Transport in an Asymmetric Microjunction - A Ballistic Rectifier; Phys. Rev. Lett., Nr. 80, Seite 3831-3834, 1998

Kooperationsangebot für die Wirtschaft / Praxis:

• Verfahrensentwicklung bei der Nanostrukturierung und -charakterisierung sind für Gerätehersteller - insbesondere im Rastersondenbereich - verfügbar.
• Entwicklungen auf dem Gebiet der Halbleiter-Nanostrukturen sind in typisch 3-10 Jahren in Halbleiterprodukte umsetzbar.
• Spektroskopische Untersuchungen vom Mikrowellen- bis zum sichtbaren Spektralbereich
• Herstellung und Charakterisierung von Halbleitersystemen auf der Nanometerskala
• Lizenzierung von eigenen Patenten

Bestehende Kooperationen:

Sonstiges: